XEI Scientific 社製

電子顕微鏡による観察で起こる「コンタミネーション」による障害とは？
SEMやTEM/STEM装置を使って観察や分析を行う際には「コンタミネーション（＝汚染）」による障害がしばしば報告されています。このコンタミネーションによる汚染は、・・・・

Evactronの各種製品を紹介いたします。

バルク試料をSEMやFIBで観察したり、表面分析装置で解析する場合とは異なり、原子分解能や1原子層の解析を行なう必要のあるTEM/STEMの場合には、極めて僅かなコンタミ源に対してもその影響は出やすく、汚染されている箇所を的確にクリーニングする必要があります。

Evactronは、2004年の販売開始からおかげさまで200台以上が日本の皆様のもとで活躍しています。これまでにユーザーの皆様から寄せられた様々なお問い合わせをまとめてみましたので、ぜひご一読頂いてEvactronに関する理解を深めてください。