Solution for Nanotech 電子顕微鏡周辺機器を中心としたサービスカンパニー

株式会社テクノラボは、'Solution for Nanotech'のもとに、電子顕微鏡を中心とした周辺機器の輸入販売、各種アプリケーションサポートを提供するサービスカンパニーです。

XEI Scientific, Inc

XEI Scientific, Inc.社製

XEI Scientific 社製

電子顕微鏡用De-Contaminator

Spicer Consulting, Inc.

Spicer Consulting, Inc.社製

Spicer Consulting 社製

電子顕微鏡用磁場キャンセラー/
設置環境測定装置

Omniprobe, Inc.

Omniprobe, Inc. 社製

Omniprobe 社製

Autoprobe300、OmniGIS

IXRF SYSTEMS, Inc.

IXRF SYSTEMS, Inc. 社製

IXRF SYSTEMS 社製

SEM試料室用X線管球

ニュース

新製品リリース予定や、学会・展示会への参加予定等のニュースです。

第66回・日本顕微鏡学会学術講演会 機器展示に参加します

来る、2010年5月23日(日)〜26日(水)名古屋国際会議場にて開催される日本顕微鏡学会において、XEI社製のEvactron、 Spicer製の磁場キャンセラー、環境測定装置、OmniProbe社製品等を展示致します。

皆様のご来場を心よりお待ちしております。

TEM Wandがリリースされました

これまで高分解能FE-SEMやFIB/SEM上で活躍してきたEvactronにTEM用が追加されました。

TEM Wandはユーザー自身でTEMの試料室周辺をクリーニングできる新しいツールです。JEOL用としてリリースされました。

来る5月24日からの日本顕微鏡学会の商業展示には実機を持ち込む予定です。

Evactron, 磁場キャンセラーのデモ評価のためのお貸し出しを行っています

現在、XEI製Evactron-C, Evactron-25, Spicer製SC20(SEM/FIB用)については、お客様によるご評価のための装置貸し出しを行っております。
ご希望のお客様はお問い合わせページよりデモ評価希望としてお問い合わせください。

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